LFA測試金屬膜

金屬膜在電子領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用，比如電子產(chǎn)品的電觸點、大功率電子器件的散熱器。為此高導(dǎo)熱和低熱膨脹的熱物性能就顯得十分必要。金屬材料的導(dǎo)熱系數(shù)一般采用激光閃射法（LFA）測量。但是對于金屬薄膜而言，傳統(tǒng)的 LFA 方法并不合適，因為樣品厚度太薄。使用特殊In-Plane水平導(dǎo)熱支架則不會有樣品厚度的限制。利用LFA特殊In-Plane水平模式支架可以測得金屬膜水平方向的熱擴散系數(shù)。由于金屬薄膜的導(dǎo)熱行為基本上可以看做是各向同性，因此也可以得到金屬膜厚度方向的導(dǎo)熱。

測試條件

溫度范圍：RT…300°C                                

樣品厚度：0.017/0.123 mm

樣品支架：In-plane水平支架                 

樣品表面噴涂：石墨

測試結(jié)果

隨著溫度升高，金屬膜的熱擴散系數(shù)逐漸降低。為了檢查In-Plane支架測試結(jié)果的準(zhǔn)確性，我們使用Laminate層壓支架來進行驗證試驗（金屬膜被切成片狀，旋轉(zhuǎn)90°，厚度為2mm），結(jié)果偏差小于3%。說明此附件能夠準(zhǔn)確地檢測高導(dǎo)熱且厚度僅為幾十微米的金屬膜材料。

編譯：

朱明峰

曾智強